电子显微镜观察还原铁粉颗粒外观和粒度分布

电子显微镜的原理

       扫描电子显微镜SEM原理是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动 （声子）、电子振荡 （等离子体）。原则上讲，利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。

电子显微镜扫描还原铁粉

       通过扫描电子显微镜对还原铁粉粉末进行扫描，我们可以通过扫描的照片直接观察到粉末颗粒的微观形貌，同时根据扫描照片上的标尺，可以大致观察到扫描区域铁粉粉末的粒度分布，借助一定的软件，通过手动选取照片上的样本，可以进一步较为准备测量出扫描区域粉末的粒度分布。